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  • 美国伊诺斯 DPO-2000合金分析仪

    美国伊诺斯 DPO-2000合金分析仪 用于材料成分辨别(PMI)的XRF分析仪在金属制造业的质量控制和质量保证方面起着举足轻重的作用。这款仪器对关键性部件、原材料以及焊缝,进行材料成份分析和合金级别鉴定。

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  • HeLeeX E8 RoHS检测仪器/无卤检测分析仪

    HeLeeX E8 RoHS检测仪器/无卤检测分析仪是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF*技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。

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  • HeLeeX E9-M 合金分析仪

    HeLeeX E9-M 合金分析仪是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),是目前国内一 款既能测轻元素,又能测挥发性液体的多样品连续无人值守测试XRF。与普通EDXRF相比,具有测试时间短(E9仅需60秒,普通EDXRF需要300秒的分析时间);测试稳定性高,可无人值守连续测试多个样品,对轻元素也有非常好的检测下限和检测精度。

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  • E9-S 合金分析仪

    E9-S 合金分析仪是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),是目前国内一 款既能测轻元素,又能测挥发性液体的XRF。与普通EDXRF相比,具有测试时间短(E9仅需60秒,普通EDXRF需要300秒的分析时间);测试稳定性高,对轻元素也有非常好的检测下限和检测精度。

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  • E8-PMA 贵金属分析仪

    E8-PMA 贵金属分析仪是一款高性能专业测试贵金属的能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF*技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告; E8-PMA采用小光斑设计,多种工作模型供选择,测试数据高,稳定性强。

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  • E8-SPR 镀层测厚分析仪器

    专业的E8-SPR 镀层测厚分析仪器是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),与普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF*技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告; E8-SPR采用小光斑设计,多种工作模型供选择,测试数据更,更稳定。

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  • E3-3D 三维定位镀层测厚分析仪器

    E3-3D 三维定位镀层测厚分析仪器是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到的测试效果。

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  • J001紫外成像仪Uvolle-VC 分析仪器

    J001紫外成像仪Uvolle-VC 分析仪器 UVOLLE-VC是一款强大的紧凑型双通道紫外—可见光成像仪。全日盲双光谱系统,它能使您在白天进行电晕和电弧的定位、显示和记录。UVOLLE-VC模型能实现高、中压电气设备如:绝缘子、套管、汽车发电机、变压器、开关设备等的扫描要求。VC与SC的显要区别在于VC可以用于拍摄视频并设置有音频麦克风接口,可进行动态存储及录音。

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